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LCR数字电桥中串联和并联的选择使用

作者:腾斯凯 发布时间:2023-05-31点击:0

  LCR数字电桥操作面板都有“串联”和“并联”按键供用户选择,这串联和并联不是物理连结,而是内在计算模式的改变,以改变计算模式得到理想的测试精度。(具体操作面板,可以参见:TH2810B,TH2817,TH 2816A这些型号)

  理论上电感正弦波激励响应电压超前电流90度,电容电压落后电流90度。实际测量中由于铜阻和各种损耗的存在,超前或落后都小于90度,这种损耗在测量中以副参数出现,电感损失角的正切值的倒数称品质因素Q值。同样电容损失角的正切值称损耗因子DF。

  LCR数字电桥进行高精度量化,要建立适当的数学模型,经过一些数**算,得到各种参数值。在整个过程中,把损耗的影响用电阻等效和电感或电容串并联。

  对于电阻根据实际应用,可以等效为电阻和小电感的串联或电阻和小电容的并联。  每种等效都可以通过数**算得到主副参数值,运算过程中,如果中间数据保持的位数很多,上述等效运算的主副参数值是一样的。实际上计算机或单片机受资源的限制,只能在有限位数下运算,一种等效得到一定的计算精度。 大阻抗器件用并联模式计算精度高,小阻抗器件用串联模式计算精度高,被测件的阻抗决定数字电桥串并联的选择。

  阻抗小于1K用串联,1K到几十K串并联都可以,还是建议用串联。阻抗大于几百K或M的量级就用并联模式。被测件是大电感(比如现在LCD背光电源变压器),或小电容用并联。  被测件是小电感或大电容用串联。

  特别注意的是阻抗决定串并联模式,阻抗和测试頻率有关,电感是ωL电容是1/ωC,小电感小电容适当提高测试頻率可以提高测量精度。实际运用中串联模式使用比较多。


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